国产巨作麻豆欧美亚洲综合久久,亚洲国产精品久久久久蜜桃网站,精品无码一区二区三区免费看,丁香色婷婷国产精品视频

產品中心PRODUCTS CENTER
技術文章您現在的位置:首頁 > 技術文章 > 涂層測厚儀的測量方法簡介

涂層測厚儀的測量方法簡介

更新時間:2015-09-12   點擊次數:1381次

 對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等,在

有關國家和標準中稱為覆層(coating)。
      覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環,是產品達到優等質量標準

的*手段。為使產品化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確的要求。
      涂層厚度儀的測量方法主要有:楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射

線熒光法、β射線反向散射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有

損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
     X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使

用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層

和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
     隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微

型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達

到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業和科研使用zui廣

泛的測厚儀器。